ミュー粒子・電子転換過程探索実験DeeMeにおける背景事象評価

日本物理学会講演概要集

Online ISSN : 2189-0803
ISSN-L : 2189-0803

セッションID: 15pG107-12

DOI https://doi.org/10.11316/jpsgaiyo.74.1.0_633

会議情報

主催: 一般社団法人日本物理学会

会議名: 2019年度日本物理学会第74回年次大会

開催日: 2019/03/14 - 2019/03/17

2019年度日本物理学会第74回年次大会

ミュー粒子・電子転換過程探索実験DeeMeにおける背景事象評価

新郷裕太, 志垣賢太, 山本風海, 青木正治, 長尾大樹

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キーワード: ビーム基礎, 粒子ビーム, シンクロトロン, ビームモニター

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