年会講演予稿集
Online ISSN : 2433-1139
セッションID: 28p-EC-4
会議情報
28p-EC-4 電子衝撃によるハロゲンイオンの電離断面積の測定(原子・分子)
山田 一博, 檀上 篤徳, 平山 孝人, 松本 淳, 大谷 俊介, 鈴木 洋, 高柳 俊暢, 俵 博之, 脇谷 一義, 吉野 益弘
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© 1987 一般社団法人 日本物理学会
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