日本物理学会講演概要集. 年会
Online ISSN : 2433-1112
セッションID: 28a-W-2
会議情報
28a-W-2 Siストリップ検出器のγ線による表面損傷 I
吉川 満俊, 大杉 節, 岩田 洋世, 大山 博史, 大本 貴文, 後藤 公徳, 半田 隆信, 岩田 康, 田村 詔生, 畠中 照明, 海野 義信, 氏家 宣彦, 高力 孝, 日出 富士雄, 小林 茂治, 村上 明, 醍醐 元正, 高島 隆一, 樋口 正人, 宮田 等, 宮野 和政
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© 1994 一般社団法人 日本物理学会
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