30p-Q-12 核融合用イオンビームダイオードの多次元計測III : ダイオード内の電子分布のX線ピンホールカメラによる計測

日本物理学会講演概要集. 秋の分科会

Online ISSN : 2433-1171

セッションID: 30p-Q-12

DOI https://doi.org/10.11316/jpsgaiyoj.1995.4.0_225_2

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30p-Q-12 核融合用イオンビームダイオードの多次元計測III : ダイオード内の電子分布のX線ピンホールカメラによる計測

安池和仁, 越智徹, 宮本修治, 中井貞雄, 三間圀興

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