Ni中の格子欠陥の陽電子消滅寿命測定法による研究

日本物理学会講演概要集. 秋の分科会

Online ISSN : 2433-1171

セッションID: 3a-N-10

DOI https://doi.org/10.11316/jpsgaiyoj.1996.2.0_45_1

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Ni中の格子欠陥の陽電子消滅寿命測定法による研究

上之康一郎, 大村雅一, 上村祥史, 堤哲男, 竹中稔, 蔵元英一

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