K-Capture Probabilities in the Decay of 175Hf
1988 年 57 巻 11 号 p. 3762-3765
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1988 年 57 巻 11 号 p. 3762-3765
The K-capture probabilities in the decay of 175Hf to 433 and 343 keV levels have been determined by the KX-ray-gamma ray sum peaks observed with a high resolution single intrinsic Ge detector.
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