抄録
【目的】CHO細胞の突然変異種でKu80欠損細胞であるxrs5における、γ線照射後1-72時間後のDNA二重鎖切断部位に集積するH2AX、およびDNA二重鎖切断の修復部位に集積する53BP1を抗体を用いて免疫染色後、蛍光輝度計測し評価した。【方法】CHO-K1およびKu80欠損mutant のxrs5細胞を用いて、γ線照射後1-72時間後の H2AXおよび53BP1のフォーカス形成をキーエンス蛍光顕微鏡BZII解析アプリケーションソフトを用いて計測し評価した。【結果】線量率1Gy/minのγ線を2Gy照射後72時間のH2AXおよび53BP1のフォーカスを計測値で、1つの細胞あたりのフォーカス形成を比較すると、CHO-K1は7±2であるのに対しxrs5細胞は35±7と高値であった。【結論】DNA二重鎖切断修復関連タンパク質を構成するKu80欠損細胞のxrs5はγ線照射後72時間後においてもDNA二重鎖切断が修復されずDNA損傷が持続していた。
