日本放射線影響学会大会講演要旨集
日本放射線影響学会第52回大会
セッションID: W8
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DNA二本鎖切断はLET増加に伴い増加するのか?減少するのか?
DNA二本鎖切断はLET増加に伴い増加するのか?減少するのか?
*平山 亮一寺東 宏明横谷 明徳
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抄録
放射線による電離イベントはLETの増加とともに個々の発生間隔が短くなり、適当なLETの放射線ではDNAの直径(2 nm)にほぼ等しい間隔で電離が起こり効率良くDNA二本鎖切断(DSB)が生成するため、高い生物効果が生じると考えられる。この考え方にたてば、LET増加に伴いDSB生成量は増加していくことになり、実際そのような報告も多くみられる。一方、それとは逆にLET増加に伴いDSB生成量が減少する傾向を示した報告も多い。このDSB生成におけるLET依存性の相違は古くから議論されているが、未だ解決されていない放射線生物学上の重要課題である。本ワークショップではDSB生成収率のLET依存性について、実験に用いた線質や試料、検出方法など実験条件の違いによる影響について検討を行い、フロアー壇上一体となって議論したい。
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© 2009 日本放射線影響学会
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