アンチコインシデンスを利用した陽電子消滅測定法の開発

応用物理学会学術講演会講演予稿集

Online ISSN : 2436-7613

第58回春季応用物理学関係連合講演会

セッションID: 25a-EA-8

DOI https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2011.1.0_563

会議情報

主催: 社団法人応用物理学会

会議名: 春季応用物理学関係連合講演会

回次: 58

開催地: 神奈川工科大学

開催日: 2011/03/24 - 2011/03/27

アンチコインシデンスを利用した陽電子消滅測定法の開発

*山脇正人, 小林慶規, 渡邊吉弘, 服部兼久

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キーワード: 25a-EA-8, 放射線, 放射線応用・新技術, 非破壊検査, 陽電子寿命測定法, 陽電子消滅

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