STEM-EELSを用いた非晶質薄膜のバンドギャップ測定

応用物理学会学術講演会講演予稿集

Online ISSN : 2436-7613

第72回応用物理学会秋季学術講演会

セッションID: 31a-ZH-8

DOI https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2011.2.0_3063

会議情報

主催: 公益社団法人応用物理学会

会議名: 応用物理学会秋季学術講演会

回次: 72

開催地: 山形大学

開催日: 2011/08/29 - 2011/09/02

STEM-EELSを用いた非晶質薄膜のバンドギャップ測定

*本谷宗, 古畑武夫, 治田充貴, 倉田博基

著者情報

キーワード: 31a-ZH-8, 非晶質・微結晶, 基礎物性・評価, STEM-EELS, 非晶質

会議録・要旨集フリー

詳細

記事の1ページ目

著者関連情報

© 2011 公益社団法人応用物理学会

お気に入り & アラート

関連記事

閲覧履歴

Top