バンド励起電気化学歪み顕微鏡法とI-VマッピングによるNiO中抵抗スイッチング機構の解明

応用物理学会学術講演会講演予稿集

Online ISSN : 2436-7613

第74回応用物理学会秋季学術講演会

セッションID: 19a-D2-5

DOI https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2013.2.0_2332

会議情報

主催: 公益社団法人応用物理学会

会議名: 応用物理学会秋季学術講演会

回次: 74

開催地: 同志社大学

開催日: 2013/09/16 - 2013/09/20

バンド励起電気化学歪み顕微鏡法とI-VマッピングによるNiO中抵抗スイッチング機構の解明

*杉山一生, 柴田直哉, 山本剛久, 幾原雄一

著者情報

キーワード: 19a-D2-5, 薄膜・表面, プローブ顕微鏡, 走査透過型電子顕微鏡, 走査プローブ顕微鏡, 電気化学歪み顕微鏡

会議録・要旨集フリー

詳細

記事の1ページ目

著者関連情報

© 2013 公益社団法人応用物理学会

お気に入り & アラート

関連記事

閲覧履歴

Top