The 74th JSAP Autumn Meeting 2013
セッションID: 17p-M7-3
会議情報
主催: The Japan Society of Applied Physics
会議名: 応用物理学会秋季学術講演会
回次: 74
開催地: 同志社大学
開催日: 2013/09/16 - 2013/09/20
Atom Probe Tomography Analysis of a Gallium-Nitride-Based Commercial Light-Emitting Diode
キーワード:
17p-M7-3,
2013 JSAP-MRS Joint Symposia,
Symposium F: Nanoscale 3D Tomography, Time-resolved Imaging and Dynamic Characterization of Nanostructured Materials and Devices
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