Spatial Variation in Carrier Concentration in Nanocrystal Ni-Si Films Measured by Multimode Scanning Probe Microscopy

The 61st JSAP Spring Meeting 2014

セッションID: 19p-D9-9

会議情報

主催: The Japan Society of Applied Physics

会議名: 応用物理学会春季学術講演会

回次: 61

開催地: 青山学院大学

開催日: 2014/03/17 - 2014/03/20

Spatial Variation in Carrier Concentration in Nanocrystal Ni-Si Films Measured by Multimode Scanning Probe Microscopy

著者情報

キーワード: 19p-D9-9

会議録・要旨集フリー

詳細