透過電子顕微鏡によるCu(In,Ga)Se<sub>2</sub>薄膜の粒界評価

応用物理学会学術講演会講演予稿集

Online ISSN : 2436-7613

第61回応用物理学会春季学術講演会

セッションID: 19a-D7-4

DOI https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2014.1.0_3183

会議情報

主催: 公益社団法人応用物理学会

会議名: 応用物理学会春季学術講演会

回次: 61

開催地: 青山学院大学

開催日: 2014/03/17 - 2014/03/20

透過電子顕微鏡によるCu(In,Ga)Se₂薄膜の粒界評価

*青柳健大, 峯元高志

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キーワード: 19a-D7-4, 半導体B（探索的材料・物性・デバイス）, 化合物太陽電池, Chalcogenide solar cells, TEM

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