応用物理学会学術講演会講演予稿集
Online ISSN : 2436-7613
The 62nd JSAP Spring Meeting 2015
セッションID: 12p-A20-9
会議情報

主催: The Japan Society of Applied Physics

会議名: 応用物理学会春季学術講演会

回次: 62

開催地: 東海大学

開催日: 2015/03/11 - 2015/03/14

Atomic Characterization of Si Nanocrystals Embedded in SiO2 Matrix by Atom Probe Tomography
*韓 斌, 清水 康雄, 井上 耕治, Seguini Gabriele, Perego Michele, 永井 康介
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キーワード: 12p-A20-9, Atom probe tomography, Si nanocrystal
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© 2015 The Japan Society of Applied Physics
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