レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡とC-V測定によるパッシベーション膜特性の比較評価

応用物理学会学術講演会講演予稿集

Online ISSN : 2436-7613

第63回応用物理学会春季学術講演会

セッションID: 20p-S611-17

DOI https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2016.1.0_3704

会議情報

主催: 公益社団法人応用物理学会

会議名: 応用物理学会春季学術講演会

回次: 63

開催地: 東京工業大学

開催日: 2016/03/19 - 2016/03/22

レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡とC-V測定によるパッシベーション膜特性の比較評価

*伊藤明, 望月敏光, 中西英俊, 棚橋克人, 川山巌, 斗内政吉, 白澤勝彦, 高遠秀尚

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キーワード: 20p-S611-17, 非晶質・微結晶, シリコン系太陽電池, パッシベーション技術, 太陽電池, テラヘルツ波, フェムト秒レーザー

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