走査型ヘリウムイオン顕微鏡（HIM）を用いた試料温度・電圧制御下での二酸化バナジウム（VO<sub>2</sub>）膜ドメインの評価

応用物理学会学術講演会講演予稿集

Online ISSN : 2436-7613

第77回応用物理学会秋季学術講演会

セッションID: 13a-A31-3

DOI https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2016.2.0_1309

会議情報

主催: 公益社団法人応用物理学会

会議名: 応用物理学会秋季学術講演会

回次: 77

開催地: 朱鷺メッセ

開催日: 2016/09/13 - 2016/09/16

走査型ヘリウムイオン顕微鏡（HIM）を用いた試料温度・電圧制御下での二酸化バナジウム（VO₂）膜ドメインの評価

*小川真一, 飯島智彦, 神吉輝夫, 田中秀和

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キーワード: 13a-A31-3, 薄膜・表面, 酸化物エレクトロニクス, 強相関電子系, ヘリウムイオン顕微鏡, 電位コントラスト, 二酸化バナジウム

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