応用物理学会学術講演会講演予稿集
Online ISSN : 2436-7613
第64回応用物理学会春季学術講演会
セッションID: 16p-E206-16
会議情報

主催: 公益社団法人 応用物理学会

会議名: 応用物理学会春季学術講演会

回次: 64

開催地: パシフィコ横浜

開催日: 2017/03/14 - 2017/03/17

トンネルFET ベースCMOS回路のシングルイベント耐性
*呉 研, 和田 雄友, 岩波 悠太, 金山 純一, 高橋 芳浩
著者情報
キーワード: 16p-E206-16, 半導体, Si系基礎物性・表面界面・シミュレーション, デバイスシミュレーション, トンネルFET, 耐放射線性, シングルイベント効果
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