多点ファイババンドルによる画像変換を用いたチャープコムのスペクトル干渉によるワンショット3次元形状計測

応用物理学会学術講演会講演予稿集

Online ISSN : 2436-7613

第64回応用物理学会春季学術講演会

セッションID: 16p-418-4

DOI https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2017.1.0_871

会議情報

主催: 公益社団法人応用物理学会

会議名: 応用物理学会春季学術講演会

回次: 64

開催地: パシフィコ横浜

開催日: 2017/03/14 - 2017/03/17

多点ファイババンドルによる画像変換を用いたチャープコムのスペクトル干渉によるワンショット3次元形状計測

*内田めぐみ, 加藤峰士, 田中優理奈, 美濃島薫

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キーワード: 16p-418-4, 光・フォトニクス, 光計測技術・機器, 光センサー，光計測システム, 光コム, 3次元計測, ファイババンドル

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