第65回応用物理学会春季学術講演会
セッションID: 18p-P11-1
会議情報
主催: 公益社団法人 応用物理学会
会議名: 応用物理学会春季学術講演会
回次: 65
開催地: 早稲田大学・ベルサール高田馬場
開催日: 2018/03/17 - 2018/03/20
EMIM TFSIの電界印加XAFSその場測定
キーワード:
18p-P11-1,
有機分子・バイオエレクトロニクス,
評価・基礎物性,
分光学的評価（光電子分光，レーザー分光，振動分光，過渡分光，ESR，EELS，熱刺激電流など）,
X線吸収分光,
イオン液体
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