nc-AFMで検出するGe/Si(111)表面原子とSi探針間に働く化学結合力と散逸エネルギー

応用物理学会学術講演会講演予稿集

Online ISSN : 2436-7613

第80回応用物理学会秋季学術講演会

セッションID: 19a-C310-7

DOI https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2019.2.0_1688

会議情報

主催: 公益社団法人応用物理学会

会議名: 応用物理学会秋季学術講演会

回次: 80

開催地: 北海道大学札幌キャンパス

開催日: 2019/09/18 - 2019/09/21

nc-AFMで検出するGe/Si(111)表面原子とSi探針間に働く化学結合力と散逸エネルギー

*新井豊子, 辻繁樹, 藏大輝, 敷地汰一, 富取正彦

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キーワード: 19a-C310-7, 薄膜・表面, プローブ顕微鏡, 表面・界面評価, 非接触原子間力顕微鏡, 散逸エネルギー

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