The 80th JSAP Autumn Meeting 2019
セッションID: 18p-PB2-2
会議情報
主催: The Japan Society of Applied Physics
会議名: 応用物理学会秋季学術講演会
回次: 80
開催地: 北海道大学 札幌キャンパス
開催日: 2019/09/18 - 2019/09/21
The effect of Hf-ion implantation on the charge trapping characteristics of MONOS-type memory devices
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