The 67th JSAP Spring Meeting 2020
セッションID: 12p-A305-2
会議情報
主催: The Japan Society of Applied Physics
会議名: 応用物理学会春季学術講演会
回次: 67
開催地: 上智大学 四谷キャンパス
開催日: 2020/03/12 - 2020/03/15
Detection of Charge Traps in Silicon Nanowire MOSFETs Using Transient Current Measurements
*Boyang Cui, Tomoko Mizutani, Kiyoshi Takeuchi, Takuya Saraya, Masaharu Kobayashi, Masaharu Kobayashi, Toshiro Hiramoto
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