X線線減弱係数スペクトルを用いた水・エタノール系の濃度測定

応用物理学会学術講演会講演予稿集

Online ISSN : 2436-7613

第67回応用物理学会春季学術講演会

セッションID: 15a-D209-10

DOI https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2020.1.0_580

会議情報

主催: 公益社団法人応用物理学会

会議名: 応用物理学会春季学術講演会

回次: 67

開催地: 上智大学四谷キャンパス

開催日: 2020/03/12 - 2020/03/15

X線線減弱係数スペクトルを用いた水・エタノール系の濃度測定

*森本一成, 星和志, 鈴木宏輔, 大野由美子, 取越正巳, 櫻井浩

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キーワード: 15a-D209-10, 放射線, 放射線応用・発生装置・新技術, 線量評価, 線減弱係数, 濃度測定, 単色X線

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