高計数率X線計測を企図したゾルゲル法によるHf<sub>x</sub>Si<sub>1</sub><sub>−x</sub>O<sub>2</sub>粒子添加PVKベースプラスチックシンチレータの開発

応用物理学会学術講演会講演予稿集

Online ISSN : 2436-7613

第82回応用物理学会秋季学術講演会

セッションID: 12p-S202-2

DOI https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2021.2.0_512

会議情報

主催: 公益社団法人応用物理学会

会議名: 応用物理学会秋季学術講演会

回次: 82

開催地: ハイブリッド開催（名城大学＆オンライン）

開催日: 2021/09/10 - 2021/09/23

高計数率X線計測を企図したゾルゲル法によるHf_xSi₁_−xO₂粒子添加PVKベースプラスチックシンチレータの開発

*佐藤敦史, 越水正典, 藤本裕, 岸本俊二, 浅井圭介

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キーワード: 12p-S202-2, 放射線, 放射線誘起蛍光体, シンチレーター, シンチレータ, プラスチックシンチレータ, PVK

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