擬似ランダム変調励起光による発光寿命測定における論理ゲートと光源の電流変調を用いた高速化

応用物理学会学術講演会講演予稿集

Online ISSN : 2436-7613

第69回応用物理学会春季学術講演会

セッションID: 25p-E302-13

DOI https://doi.org/10.11470/jsapmeeting.2022.1.0_790

会議情報

主催: 公益社団法人応用物理学会

会議名: 応用物理学会春季学術講演会

回次: 69

開催地: ハイブリッド開催（青山学院大学＋オンライン）

開催日: 2022/03/22 - 2022/03/26

擬似ランダム変調励起光による発光寿命測定における論理ゲートと光源の電流変調を用いた高速化

*宇井颯太, 瀬戸啓介, 小林孝嘉, 徳永英司

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キーワード: 25p-E302-13, 光・フォトニクス, 光計測技術・機器, ナノ計測, 蛍光寿命イメージング, 蛍光顕微鏡

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