計算力学講演会講演論文集
Online ISSN : 2424-2799
会議情報
626 仮想き裂進展法による IC パッケージ剥離界面の応力拡大係数の評価
町田 賢司岡村 弘之代田 健一
著者情報
会議録・要旨集 フリー

p. 659-660

詳細
記事の1ページ目
著者関連情報
© 2000 一般社団法人 日本機械学会
前の記事 次の記事
feedback
Top