計算力学講演会講演論文集
Online ISSN : 2424-2799
セッションID: 1502
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1502 デジタル画像相関法によるFlip Chipパッケージ内部のひずみ測定とFEM解析精度の向上(OS15.電子デバイス・電子材料と計算力学(1),オーガナイズドセッション)
貫野 敏史, 池田 徹, 宮崎 則幸, 田中 宏之, 畑尾 卓也
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© 2009 一般社団法人 日本機械学会
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