IIP情報・知能・精密機器部門講演会講演論文集
Online ISSN : 2424-3140
セッションID: H-1-3
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垂直観測型エリプソメトリー顕微鏡の摺動すきま形状計測への適用
福澤 健二山下 千尋伊藤 伸太郎張 賀東
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抄録

Gap measurement is essential to clarification of lubrication phenomena at nano-meter gaps; however, there are no well-established methods. We present a new method for measuring the distribution of nano-meter sliding gaps. Vertical-objective-type ellipsometric microscope (VEM) was applied to sliding gap measurements. Feasibility of the method for the nano-meter gap measurement was demonstrated.

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© 2016 一般社団法人 日本機械学会
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