年次大会講演論文集
Online ISSN : 2433-1325
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1823 プリント基板検査システムの開発 : BGA の自動検査
傳田 直史山川 智史和久井 健里見 忠篤
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p. 219-220

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抄録
This paper describes the switching circuit to change the multi-electrode automatically by using the multiplexer and USB-Computer. It is possible to inspect BGA under various conditions by changing the range of sweep, interval of sampling time and partition value. All setting conditions are able to change by PC. PC is achieved to memorize the data from USB-Computer, and processing of these data. The switching circuit using USB-Computer worked to normal with BGA.
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© 2003 一般社団法人日本機械学会
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