年次大会講演論文集
Online ISSN : 2433-1325
セッションID: K-0211
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K-0211 平坦化のためのシリコンウェーハ研磨装置の最適設計 : 設計値による相対速度への影響(J02-3 最適化法の応用)(J02 設計・解析と最適化・適応化)
宮嶋 隆司工藤 誠一中村 正行小林 光征
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抄録
The design value of a silicon wafer polishing machine such as radius ratio, rotational velocity ratio, attachment position, rocking cycle and rocking amplitude has great effect on planarization of the silicon wafer. Relative velocity is one of factors which determines polishing quantity. The purpose of this study is optimization of the design value of polishing machine for planarization of the silicon wafer. In this paper, relative slide distance was substituted for polishing quantity and it was investigated how design value influenced relative slide distance.
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© 2001 一般社団法人日本機械学会
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