M&M材料力学カンファレンス
Online ISSN : 2424-2845
セッションID: GS12
会議情報
GS12 微視クリープ損傷力学解析に基づくクリープき裂成長試験におけるC(T)試験片サイドグループ形状の特定
福田 高弘茂山 治久横堀 壽光杉浦 隆次
著者情報
会議録・要旨集 フリー

詳細
抄録
Creep crack growth tests using C(T) specimens are standardized by ASTM E1457. To realize uniform creep crack growth, C(T) specimens with side-groove are used for the tests. However, due to difference of creep ductility and creep crack growth behavior for each material, the optimum depth of side-groove has not been yet defined strictly. In this paper, to characterize the optimum depth of the side-groove, diffusion analysis of vacancy around a notch tip was conducted based on micro damage mechanics.
著者関連情報
© 2014 一般社団法人 日本機械学会
前の記事 次の記事
feedback
Top