真空
Online ISSN : 1880-9413
Print ISSN : 0559-8516
ISSN-L : 0559-8516
解説
中速イオン散乱法（MEIS）と走査型トンネル顕微鏡（STM）による表面ナノ構造の解析
住友 弘二, 尾身 博雄, Zhaohui ZHANG, 荻野 俊郎
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2006 年 49 巻 5 号 p. 277-281

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