真空
Online ISSN : 1880-9413
Print ISSN : 0559-8516
ISSN-L : 0559-8516
走査トンネル顕微鏡, 原子間力顕微鏡およびフーリエ変換赤外分光法による水素終端シリコン表面の分析
高萩 隆行, 坂上 弘之
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1999 年 42 巻 10 号 p. 886-891

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