周波数変調AFMによるグラファイト電極上の異なる深さの段差近傍における界面イオン液体の構造化の解析

抄録

イオン液体は難燃性・化学的安定性等の特徴を有し、二次電池等への応用が期待されているが、固体電極との界面で構造化し、そのことが時にデバイス効率低下の原因となる。電極の表面構造と界面イオン液体の構造化の相関の評価のため、熱処理によりグラファイトに深さや大きさを制御した穴を形成し、そのエッジ近傍でのイオン液体BMIM-TFSIの構造と、段差との相関を周波数変調原子間力顕微鏡により評価した。