連続切片SEM法は，超薄連続切片を硬い基板に載せ，その切片像を走査電子顕微鏡（SEM）で取得する技法である．この手法は，透過電子顕微鏡による連続切片法より容易であり，収束イオンビーム/SEM（FIB/SEM）のように高価で特殊な装置を用いずに，高精度な3D再構築像の作製が可能である．本稿では，この連続切片SEM法について，解説すると共に，この手法をゴルジ装置の3D構造解析に応用した例を紹介する．この手法は，ゴルジ装置のような空間的に複雑な形状を呈する細胞小器官の3D構造解析に最適である．連続切片SEM法を用いることで，ゴルジ装置やミトコンドリアなどの細胞小器官の3D構造解析の応用に期待がもてそうである．
