カソードルミネッセンス顕微法(II) 装置,応用(1)

電子顕微鏡

Print ISSN : 0417-0326

カソードルミネッセンス顕微法(II) 装置,応用(1)

関口隆史

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キーワード: カソードルミネッセンス, 半導体, III-V族半導体, II-VI族半導体, Si, ダイヤモンド, 照射欠陥, 走査型電子顕微鏡, 透過型電子顕微鏡

ジャーナルフリー

1999 年 34 巻 1 号 p. 30-34

DOI https://doi.org/10.11410/kenbikyo1950.34.30

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