STM/STSと走査探針

電子顕微鏡

Print ISSN : 0417-0326

STM/STSと走査探針

富取正彦

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キーワード: 走査型トンネル顕微鏡, 走査型トンネル分光法, タングステン針, T-F処理

ジャーナルフリー

1999 年 34 巻 2 号 p. 147-149

DOI https://doi.org/10.11410/kenbikyo1950.34.147

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© 社団法人日本顕微鏡学会

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