透過型電子顕微鏡を用いた電子状態解析

電子顕微鏡

Print ISSN : 0417-0326

透過型電子顕微鏡を用いた電子状態解析

寺内正己

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キーワード: 透過型電子顕微鏡, 電子状態, 非弾性散乱, 電子エネルギー損失分光法, X線発光分光法

ジャーナルフリー

2003 年 38 巻 3 号 p. 186-191

DOI https://doi.org/10.11410/kenbikyo1950.38.186

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