超高圧電子顕微鏡による照射場格子揺らぎ解析

顕微鏡

Online ISSN : 2434-2386
Print ISSN : 1349-0958

超高圧電子顕微鏡による照射場格子揺らぎ解析

渡辺精一

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キーワード: 照射効果, その場観察, 超高圧電子顕微鏡, 金属ガラス, 構造揺らぎ

ジャーナルフリー

2005 年 40 巻 1 号 p. 59-62

DOI https://doi.org/10.11410/kenbikyo2004.40.59

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