顕微鏡
Online ISSN : 2434-2386
Print ISSN : 1349-0958
同位体顕微鏡
高感度2次元イオン検出による結像型SIMS
圦本 尚義
著者情報
キーワード: イメージング, 同位体, 2次イオン質量分析法, 荷電粒子, 固体撮像素子
ジャーナル フリー

2006 年 41 巻 2 号 p. 134-137

詳細
PDFをダウンロード (5466K)
メタデータをダウンロード RIS形式

(EndNote、Reference Manager、ProCite、RefWorksとの互換性あり)

BIB TEX形式

(BibDesk、LaTeXとの互換性あり)

テキスト
メタデータのダウンロード方法
発行機関連絡先
記事の1ページ目
著者関連情報
© 社団法人日本顕微鏡学会
前の記事 次の記事
お気に入り & アラート

閲覧履歴
前身誌

電子顕微鏡

このページを共有する
feedback
 Top