まてりあ
Online ISSN : 1884-5843
Print ISSN : 1340-2625
ISSN-L : 1340-2625
(c) 分光・分析法の高度化による新展開
SEM/STEM における波長分散型 X 線分光分析とマッピング
田中 美代子, 竹口 雅樹, 古屋 一夫
著者情報
ジャーナル フリー

2009 年 48 巻 12 号 p. 631

詳細
PDFをダウンロード (1328K)
メタデータをダウンロード RIS形式

(EndNote、Reference Manager、ProCite、RefWorksとの互換性あり)

BIB TEX形式

(BibDesk、LaTeXとの互換性あり)

テキスト
メタデータのダウンロード方法
発行機関連絡先
記事の1ページ目
著者関連情報
© 2009 公益社団法人 日本金属学会
前の記事 次の記事
お気に入り & アラート

閲覧履歴
前身誌

日本金属学会会報

このページを共有する
feedback
 Top