日本セラミックス協会 年会・秋季シンポジウム 講演予稿集
2005年年会講演予稿集
セッションID: 2B07
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ESDによるバリスタ特性劣化
*廣瀬 左京西田 晃一新見 秀明和田 信之田村 博坂部 行雄
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キーワード: バリスタ, 静電気, 粒界障壁
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抄録
近年、積層チップバリスタはESD(静電気)対策保護素子として携帯電話を中心に数多く使用されている。しかし、ESDの印加によりバリスタ自体が特性劣化してESD保護素子としてうまく機能しなくなるという問題がある。今回、酸化亜鉛バリスタのESD耐性が組成系に大きく依存し、また特性劣化が粒界障壁の非対称劣化に起因することが明らかになったので報告する。
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©  日本セラミックス協会 2005
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