4-4 有機半導体素子の信頼性技術に関する基礎的検討(セッション4「試験,故障解析,部品,要素技術の信頼性,ハードウェア面」)

信頼性シンポジウム発表報文集

Online ISSN : 2424-2357
ISSN-L : 2424-2357

2009_春季

セッションID: 4-4

DOI https://doi.org/10.11348/reajsym.2009Spring.17.0_65

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4-4 有機半導体素子の信頼性技術に関する基礎的検討(セッション4「試験,故障解析,部品,要素技術の信頼性,ハードウェア面」)

矢谷博志, *北見尚久, 酒井貴章, 三田睦, 野口満, 草野浩幸, 北川雅彦

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