信頼性シンポジウム発表報文集
Online ISSN : 2424-2357
ISSN-L : 2424-2357
2013_春季
セッションID: 3-3
会議情報
3-3 原子輸送モデルによるCu/Low-k配線のストレス誘起ボイドの解析(セッション3「信頼性試験,データ解析,理論」)
*横川 慎二
著者情報
会議録・要旨集 フリー

詳細
PDFをダウンロード (541K)
メタデータをダウンロード RIS形式

(EndNote、Reference Manager、ProCite、RefWorksとの互換性あり)

BIB TEX形式

(BibDesk、LaTeXとの互換性あり)

テキスト
メタデータのダウンロード方法
発行機関連絡先
記事の1ページ目
著者関連情報
© 2013 日本信頼性学会
前の記事 次の記事
お気に入り & アラート

閲覧履歴
このページを共有する
feedback
 Top