1-4　不揮発性メモリの最適評価へ向けた取り組み

信頼性シンポジウム発表報文集

Online ISSN : 2424-2357
ISSN-L : 2424-2357

Vol.2020 Autumn33

DOI https://doi.org/10.11348/reajsym.2020Autumn33.0_37

会議情報

主催: 日本信頼性学会

会議名: 日本信頼性学会第33回秋季信頼性シンポジウム発表報文集

開催日: 2020/11/06 -

1-4　不揮発性メモリの最適評価へ向けた取り組み

～JESD219A のSD カードへの適用事例～

*長野真人, *小関健哲, *出口泰, *加藤且宏, *今井康雄

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会議録・要旨集フリー

p. 37-

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