計測と制御
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キーワード解説
特集:計測・計量標準技術開発における出口戦略―国際標準化と適合性評価―
藤間 一郎大串 浩司
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2015 年 54 巻 10 号 p. 703

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抄録
このキーワード解説は,「計測・計量標準技術開発における出口戦略 -国際標準化と適合性評価-」特集号で使用される基本的な用語のうち,特に重要なものを厳選し,説明した用語集である.本分野に馴染みのない読者にとって解説記事や事例紹介記事を理解するための必要な基礎用語の説明となれば幸いである.これらの用語のさらなる詳細は本特集号の奈良氏による解説記事「適合性評価活動の現状と課題」で知ることができる.なお,キーワード解説の作成には末尾の文献を参照した.謝意を申し上げる.
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© 2015 公益社団法人 計測自動制御学会
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