スペックル応用計測技術と最近の動向

計測と制御

Online ISSN : 1883-8170
Print ISSN : 0453-4662
ISSN-L : 0453-4662

スペックル応用計測技術と最近の動向

山口一郎

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キーワード: レーザー応用, スペックル, 相関技術, 干渉計測, 光学的測定

ジャーナルフリー

1982 年 21 巻 9 号 p. 881-890

DOI https://doi.org/10.11499/sicejl1962.21.881

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