放射光硬X線を用いた内殻励起によるCBr₄吸着Ge(001)表面からの臭素イオン脱離

抄録

高輝度硬X線を用いた元素選択的励起脱離の現象解明のため、CBr₄を吸着させたGe(001)表面において臭素のK殻励起によるイオン脱離を調査した。パルスカウンティング四極子質量分析器を使って臭素イオンの観測に成功した。本成果により、重い元素の内殻励起を可能にする硬X線領域の光でも内殻励起脱離が起こることが示された。