主催: 日本表面科学会
東工大院理工
テクノ・シナジー
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従来の偏光SNOM/AFMでは、システムの消光比が十分でないため、薄膜やレターデーションの低い物質の偏光特性はハイコントラストで測定できない。本研究では、実用的な偏光コントラストを持つ偏光SNOM/AFMの開発目的として、消光性能の改善を図った。また、その実証として高分子球晶の微小構造観察を行った。その結果、システムの消光比は300を達成し、球晶をハイコントラストで観察することができた。
日本表面真空学会学術講演会要旨集
表面科学学術講演会要旨集
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